Journée Contrôle 3D optique du 7 décembre 2006

Lecture : 1 minute

De nouvelles technologies pour un contrôle rapide et de qualité…

Organisée par le Collège français de métrologie l’objectif de cette journée est de présenter des moyens de mesure dimensionnels et géométriques optique 3D, s’appuyant sur les technologies innovantes : laser de poursuite, micro GPS, photogrammétrie, capteur à nappe laser,…

Après les moyens optiques 2D, la digitalisation d’objets en 3D est de plus en plus présente pour faire de la re-construction de surface, de la mesure de déformations et de défauts géométriques.
Qu’en est-il de la métrologie et du contrôle de fabrication ?
Quelle est la qualité de mesure obtenue ? Quels sont les principaux types d’utilisations industrielles ?

Cette rencontre aura lieu le 7 décembre prochain aux Salons de l’Aveyron à Paris. Plus d’informations sur https://www.cfmetrologie.com/include/docs/jt_7_12_06.html

Source : https://www.cfmetrologie.com

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